科技报告

已选条件：
× 电子与电气工程
× DYNAMIC TESTS

全选【符合条件的数据共：1条】

1 A First Look at 22 nm FDSOI SRAM Single-Event Test Results [科技报告]

作者:Casey, Megan C;Stansberry, Scott;Seidleck, Christina;等

发布日期:2018

关键词:CHIPS;DYNAMIC TESTS;...

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摘要

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